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首頁(yè)-產(chǎn)品展示-智能裝備解決方案-手機行業(yè)檢測設備-MINSM-100IR檢測排片設備

IR檢測排片設備

產(chǎn)品型號：MINSM-100

簡(jiǎn)要描述：IR檢測排片設備用于手機濾光片上下表面及測面檢測，設備采用轉盤(pán)式高速物料流轉方案。設備包含Wafer并行高速上下料，Wafer 掃碼、Wafer 擴模、頂針頂片、多吸嘴取片、濾光片兩面缺陷檢測、高精度排片、NG片回收等功能。設備上表面及下表面側面檢測工位，通過(guò)高分辨率光學(xué)系統，對濾光片崩點(diǎn)、臟污、劃傷、絲印進(jìn)行等進(jìn)行高精度測量檢測。特別針對濾光片凹坑檢測這個(gè)業(yè)界難點(diǎn)，該設備集成了我司最新研制的凹坑

  • 企業(yè)實(shí)力

    Enterprise Strength

  • 有效保修

    Valid Warranty

  • 質(zhì)量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

IR檢測排片設備用于手機濾光片上下表面及測面檢測，設備采用轉盤(pán)式高速物料流轉方案。設備包含Wafer并行高速上下料，Wafer 掃碼、Wafer 擴模、頂針頂片、多吸嘴取片、濾光片兩面缺陷檢測、高精度排片、NG片回收等功能。設備上表面及下表面側面檢測工位，通過(guò)高分辨率光學(xué)系統，對濾光片崩點(diǎn)、臟污、劃傷、絲印進(jìn)行等進(jìn)行高精度測量檢測。特別針對濾光片凹坑檢測這個(gè)業(yè)界難點(diǎn)，該設備集成了我司最新研制的凹坑檢測專(zhuān)用光學(xué)系統實(shí)現了凹坑缺陷的高準確率識別。另外，設備具備缺陷分類(lèi)、SPC統計、MES數據上拋等信息化功能。該設備為行業(yè)某頭部公司定制開(kāi)發(fā)，為業(yè)內具備濾光片上下表面缺陷全覆蓋檢測的高速面檢設備。

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高速取排片

采用輕量化高速轉塔設計，配合分離式下壓Z軸與XYU取排片平臺，實(shí)現高速取排，CT＜0.7s。

 

IR片多類(lèi)型缺陷檢測

IR檢測排片設備采用高分辨率光學(xué)系統對濾光片臟污、印子、劃傷、水印、絲印相關(guān)缺陷及凹坑等進(jìn)行高精度檢測。

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