在現代半導體制造與液晶面板檢測領(lǐng)域，對微觀(guān)結構與細節的精準把控是確保產(chǎn)品質(zhì)量與性能的關(guān)鍵。舜宇金相顯微鏡，憑借其杰出的性能與廣泛的應用能力，已成為300mm晶圓及17英寸液晶面板檢測領(lǐng)域的新目標。
舜宇金相顯微鏡采用了突破性的大金相機架設計，可承載8英寸超大工作平臺，并最大支持300mm晶圓及17英寸液晶面板的檢查。這一設計不僅滿(mǎn)足了大型樣品的檢測需求，還確保了檢測過(guò)程中的穩定與精確。同時(shí)，該顯微鏡配備了多種轉盤(pán)，可適用不同尺寸的晶圓檢查，進(jìn)一步提高了檢測的靈活性和適用性。
在成像性能上，它采用了新照明系統和光學(xué)系統，照明均勻，成像清晰。其全新的觀(guān)察筒設計，采用寬光束成像系統，最大觀(guān)察視野可達26.5mm，為用戶(hù)帶來(lái)了全新的大視野體驗。此外，該顯微鏡還配置了高透過(guò)率的鏡片和先進(jìn)的鍍膜技術(shù)，可真實(shí)還原樣品的自然色彩，確保檢測結果的準確與可靠。
舜宇金相顯微鏡還具備強大的檢測功能。它集成了明場(chǎng)、暗場(chǎng)、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀(guān)察功能，可根據實(shí)際應用進(jìn)行功能選擇。其中，諾曼爾斯基微分干涉襯比系統可將明場(chǎng)觀(guān)察下無(wú)法檢測的細微高低差轉化為高對比度的明暗差，并以立體浮雕形式表現出來(lái)，廣泛用于LCD導電粒子、精密磁盤(pán)表面劃痕檢測等領(lǐng)域。
綜上所述，舜宇金相顯微鏡以其杰出的性能、廣泛的應用能力和精準的檢測功能，在300mm晶圓及17英寸液晶面板檢測領(lǐng)域樹(shù)立了新的目標。它不僅滿(mǎn)足了現代半導體制造與液晶面板檢測的高精度需求，還為科研人員提供了更加便捷、高效的檢測手段，推動(dòng)了相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)步與發(fā)展。
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